Вопросы к РК1 от Лазаревой

Дисциплина «Оптические измерения»

Вниманию студентов! Рубежный контроль № 1 будет проводиться в течение 45 минут. Каждый студент должен дать развернутый ответ на 1 вопрос. Даты проведения рубежного контроля: гр. РЛ2-81,82 - понедельник 12 марта, гр. РЛ2-83 – четверг 15 марта. Максимальный балл – 18.

Вопросы к РК 1 для групп РЛ2-81,82,83 (2012 г.)

1
Измерение, методика измерений, методы измерений, метод непосредственной оценки и дифференциальный метод

2
Погрешности измерений: классификация и причины их возникновения. Каким образом можно исключить или уменьшить влияние каждой из погрешностей на результат измерений?

3
Средства измерений, основные метрологические характеристики средств измерений. Инструментальная погрешность и погрешность взаимодействия. Каким образом можно исключить или уменьшить влияние каждой из погрешностей на результат измерений?

4
Прямые, косвенные, совокупные и совместные измерения. Какие средства измерений и измерительные системы целесообразны для каждого из видов измерений, почему?

5
Простейшая измерительная система и информационно-измерительная система: структурные схемы, области применения, достоинства и недостатки. Элементная база информационно-измерительных систем, основные требования к условиям эксплуатации информационно-измерительных систем

6
Виды измерительных сигналов. Каким образом сигнал от объекта измерения поступает в систему обработки измерительной информации? Понятие об информационной и концептуальной моделях

7
Порог чувствительности продольной визуальной наводки (схема и вывод формулы)

8
Порог чувствительности поперечной визуальной наводки (схема и вывод формулы)

9
Оптические поверхности: виды, размеры, требования к соблюдению формы оптических поверхностей. Зачем в телескопах применяют деформируемые и составные зеркала? Привести примеры

10
Типовые погрешности формы оптических поверхностей. Что такое контроль формы оптической поверхности?

11
Деформация волнового фронта плоскостью, имеющей неровность. Рекомендации по построению схем контроля оптических поверхностей.

12
Основные методы контроля формы оптических поверхностей: интерферометрический, теневой, метод Гартмана, метод анализа изображения светящейся точки; их сравнительная характеристика

13
Реализация интерферометрического метода контроля оптических поверхностей с помощью пробных стекол. Каким образом определяют знак отклонения формы поверхности (бугор или яма) и величину отклонения? Достоинства и недостатки пробных стекол

14
Классическая схема интерферометра Физо для контроля формы плоских поверхностей, состав элементов. Настройка интерферометра Физо, его достоинства и недостатки применительно к контролю формы плоских поверхностей

15
Классическая схема интерферометра Тваймана - Грина для контроля формы плоских поверхностей, состав элементов. Настройка интерферометра Тваймана - Грина, его достоинства и недостатки применительно к контролю формы плоских поверхностей

16
Вид интерферограмм при наличии типовых погрешностей контролируемых поверхностей. Ухудшение качества интерферограмм, полученных на двухлучевых интерферометрах; способы улучшения качества интерферограмм.

17
Сущность амплитудного метода обработки интерферограмм. Каким образом проводили обработку интерферограммы, зафиксированную на фотопленку? Как обрабатывают интерферограмму, зафиксированную на координатный приемник излучения?
15

Приложенные файлы

  • doc 25043982
    Размер файла: 30 kB Загрузок: 0

Добавить комментарий